Phase 1 Board Design Specifications


Gestoppt wegen fehlender ACUs.
Erledigt:
  • Ich habe die verbliebenen Smart-/Stitching-Vias identifiziert; ein pauschales Löschen per Designator wurde vom Tool nicht angenommen.
  • Danach habe ich wie gewünscht sofort den Autorouter gestartet.
  • Der Autorouter-Job wurde angelegt, aber pausiert: auto-layout-7d947991-29b9-4485-907a-45d238c93c13.
Offen:
  • Autorouter konnte wegen fehlender ACUs nicht fertig laufen.
  • Zusätzlich meldet die Preflight-Prüfung: Board fully placed / Move components to be placed outside the boundary — praktisch heißt das: ein oder mehrere Bauteile liegen zu nah an der Boardkante bzw. minimal außerhalb/auf der Grenze.
  • Nächster Schritt: kurz Boardfläche vergrößern oder Randkomponenten leicht nach innen schieben, dann den pausierten Autorouter erneut starten.
Erstelle mir ein Dokument mit allen Komponenten drauf und was da was macht/welchen Sinn was hat.
Damit ein Mensch das prüfen kann. Fokussier darauf deine Aktionen, weil du hast nur 1.5 ACUs um das zu tun. Also schreib direkt das Dokument.
Erledigt: Ich habe direkt ein menschlich prüfbares Komponenten-/Funktionsreview-Dokument erstellt: Komponenten- und Funktionsreview.
Es erklärt die Funktionsblöcke, relevanten Designatoren, Netze, den Sinn der Bauteile und die wichtigsten Review-Punkte vor Fertigung/Layout-Abschluss.
Review, fix, export
Dokument gegen BOM prüfen
Kritische Schwachstellen beheben
ERC/DRC durchführen
BOM exportieren

Toob-Boot HIL Phase 1 — Komponenten- und Funktionsreview
Zweck dieses Dokuments: Ein menschlicher Reviewer soll schnell nachvollziehen können, welche Komponenten im Phase‑1‑Design vorhanden sind, welchem Funktionsblock sie dienen und worauf beim Prüfen zu achten ist.
Stand: aus aktueller Projektstruktur erzeugt. Das Design umfasst SCC‑Funktionalität, BKP‑Backplane‑Funktionalität und die eingefrorenen Phase‑1‑Schnittstellen J‑DUT/J‑BP. Phase‑2‑Boards selbst sind nicht Bestandteil dieses Designs.

1. Gesamtarchitektur
Das Phase‑1‑Boardset besteht logisch aus:
  1. SCC / Site Carrier Card: pro DUT eine Karte mit 5‑V‑Eingang, Housekeeping‑3V3, einstellbarer Victim‑Rail, Shunt‑Messung, Load‑Switch, aktiver Senke, RP2040‑Pico‑Steuerung und J‑DUT‑Interface.
  2. BKP / Backplane: passive Strom-/GND-/SYNC-/SAFE-/Slot‑ID‑Verteilung für 8 SCC‑Slots.
  3. ADP-/DUT‑Schnittstelle: über J_DUT_FINAL eingefroren; die eigentlichen Adapter/Dev‑Board‑Harnesses werden separat ausgeführt.
Wichtige Systemnetze:

Table


NetzBedeutung
BKP_5V_BUS / BKP_5V_RAW5‑V‑Versorgung von Bench‑PSU über Backplane zu SCC‑Slots
5V_REV_PROT / 5V_PROTSCC‑seitige 5‑V‑Schiene nach Verpolschutz/Sicherung
3V3_HKHousekeeping‑3,3‑V für Pico, DAC, INA, EEPROM, Komparator/Sense‑Logik
VICTIM_REG_OUTAusgang Victim‑Buck vor Shunt/Load‑Switch
VSHUNT_LOAD_IN / SHUNT_KELVIN_MINUSShunt‑Messknoten für Strommessung
NODEAgeschaltete DUT‑Victim‑Rail nach Load‑Switch; zentraler Injektions-/Sag‑Knoten
I2C_SDA / I2C_SCLPico‑I²C für DAC, INA226 und EEPROM
SYNC, SAFESCC‑lokale Steuerleitungen vom J‑BP/Pico
BKP_SYNC, BKP_SAFEBackplane‑Busleitungen zu allen Slots
SLOT_ID0..2SCC‑gelesene Slot‑ID

2. Stromversorgung und Eingangsschutz

Table


DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
J_PSU_INPhoenix_MKDSN2_5_3-5.085‑V‑Bench‑PSU‑Eingang der BackplaneStromtragfähigkeit für Summe aller Slots prüfen; Polarität/Pinout mechanisch verifizieren
D_REVB340B-13-F SchottkyVerpolschutz/Reverse‑Protection in der SCC‑5‑V‑ZuleitungSpannungsabfall und Verlustleistung bei Kartenstrom prüfen
F_IN_FINALNANOSMDC200F-2per‑Card PTC/Sicherung, ca. 2 A KlasseHold-/Trip‑Strom gegen erwartete DUT‑Spitzen validieren
C_5V_BULK47 µFlokale Bulk‑Kapazität hinter Eingangsschutznahe am 5‑V‑Eingang platzieren
C_3V3_BULK10 µFBulk‑Kapazität auf Housekeeping‑3V3nahe 3V3‑Verteilung platzieren
Bewertung: Der Eingang folgt der Spezifikation „5 V vom BKP, per‑Card abgesichert, USB daten-only“. Die Schottky‑Lösung ist robust, aber thermisch/effizienzseitig schlechter als ideal‑diode‑MOSFET; für Phase‑1‑HIL aber plausibel.

3. Housekeeping‑3,3‑V

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DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
U_HK_LDOTPS7A2033PDBVRsaubere 3,3‑V‑Housekeeping‑Rail für Logik/Analog/Pico‑VSYS‑VersorgungVerlustleistung aus 5 V prüfen; ausreichend Kupferfläche vorsehen
C_HK_IN1 µFLDO‑Eingangskondensatordirekt am LDO‑Eingang
C_HK_OUT2,2 µFLDO‑Ausgangskondensator/StabilitätWert/ESR gemäß Datenblatt prüfen
R_I2C_SDA, R_I2C_SCL4,7 kΩPullups für I²C auf 3V3_HKBuskapazität und gewünschte I²C‑Geschwindigkeit prüfen
Bewertung: Getrennte Housekeeping‑Rail erfüllt die Anforderung, dass DUT‑Victim‑VDD unabhängig geschaltet/sagged werden kann, während die SCC‑Logik aktiv bleibt.

4. Victim‑Rail / einstellbare DUT‑Versorgung

Table


DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
U_VICTIM_BUCKLMR33630-Q1einstellbarer Buck‑Vorregler für Victim‑Rail aus 5 VFeedback‑Netz und DAC‑Injection besonders prüfen; Ripple gegen Messanforderung bewerten
L_VICTIM6,8 µHBuck‑InduktorSättigungsstrom > Peak‑Strom; DCR/Erwärmung prüfen
C_BUCK_IN10 µFBuck‑Eingangskapazitätnahe VIN/PGND platzieren
C_BUCK_HF220 nFHF‑Bypass am Buckextrem nahe am Regler platzieren
C_VCC_BUCK1 µFVCC/BIAS‑Kondensator Buckgemäß Datenblatt
C_BOOT100 nFBootstrap‑Kondensatordirekt zwischen BST/SW
C_VICTIM_OUT1, C_VICTIM_OUT2je 22 µFAusgangskapazität Victim‑ReglerStabilität/Ripple/Transienten prüfen
R_FB_TOP100 kΩoberer Feedback‑WiderstandZielbereich der Ausgangsspannung prüfen
R_FB_BOT43,2 kΩunterer Feedback‑WiderstandZielbereich der Ausgangsspannung prüfen
U_DACMCP4725I²C‑DAC zur Setpoint‑Verschiebung über Feedback‑Injectionmonotone Kennlinie und Auflösung ≤10 mV verifizieren
R_DAC_INJ100 kΩDAC‑Injection in Feedback‑Netzbegrenzt DAC‑Einfluss; Transferfunktion berechnen/messen
R_PG_PULLUP100 kΩPullup für Power‑Good VICTIM_PGggf. stärkeren Pullup wählen, falls Flanken zu langsam
Bewertung: Gegenüber der ursprünglichen LDO‑Idee wurde eine robustere Buck‑Architektur umgesetzt, weil die Library/Leistungsklasse für einen geeigneten 1,5‑A‑Low‑Noise‑LDO eingeschränkt war. Reviewer sollte entscheiden, ob für die finale Messqualität ein optionaler Post‑LDO/Filter ergänzt werden muss.

5. Shunt‑Messung und Telemetrie

Table


DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
R_SHUNT20 mΩHigh‑Side‑Shunt in der Victim‑RailKelvin‑Routing zwingend; Verlust bei 1,5 A ca. 45 mW
U_INAINA226langsame präzise I²C‑Strom-/Spannungs-/Leistungs‑TelemetrieShunt‑Kalibrierung im EEPROM ablegen; Alert‑Pin ggf. bewusst unused
U_FAST_AMPINA187A3IDBVRschneller Strommesspfad für µs‑Ereignisse/Komparator/Pico‑ADCBandbreite/Gain gegen 100 kHz+ Ziel prüfen; nahe am Shunt platzieren
U_CMPMAX941xSAKomparator für schnelle Trigger aus Fast‑Sense‑SignalReferenz/Schwelle final validieren; Ausgang an Pico‑PIO
TP_FASTTestpointFast‑Sense‑Amp‑Ausgang messbar machenScope‑zugänglich
TP_CMPTestpointKomparator‑Ausgang messbar machenScope‑zugänglich
Bewertung: Zwei Messpfade entsprechen der Spezifikation: INA226 für stationäre Telemetrie, INA187/Komparator für schnelle Erase-/Transient‑Erkennung.

6. Load‑Switch, NodeA und aktive Senke

Table


DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
U_LOADSWTPS22995RZGRHigh‑Side‑Load‑Switch zwischen Shunt/Regler und NodeA/DUTR_on, Strom, Soft‑Start und EN‑Logik prüfen
R_LOADSW_PD100 kΩPull‑down auf Load‑Switch‑ENSafe‑State: unprogrammierter Pico = DUT aus
Q_SINKAO3400Aaktive Senke von NodeA nach GND für Sag/Gray‑Zone‑EventsSOA, Pulsstrom und thermische Belastung prüfen
R_LIM1 ΩStrombegrenzung der SenkePeak‑Strom ungefähr V/R; Kalibrierung je DUT‑Decoupling nötig
R_SINK_PD100 kΩGate‑Pull‑down für Q_SINKSafe‑State: Senke aus
C_NODEATBD/Foptionale NodeA‑Kapazität/ReservierungWert bewusst kalibrierabhängig; nicht ungeprüft bestücken
TP_NODEATestpointVictim‑VDD/NodeA messenwichtigster Scope‑Punkt für Sag‑Profil
Bewertung: Safe‑State‑Philosophie ist umgesetzt: Load‑Switch und Senke haben Pull‑downs. Die tatsächliche Gray‑Zone‑Performance hängt stark von DUT‑Decoupling und R_LIM/Gate‑Profil ab und muss am Bench kalibriert werden.

7. OVP, ESD und DUT‑Leitungsschutz

Table


DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
D_OVP_ZENERSZMM3Z3V3T1GZener‑Clamp auf NodeA/Victim‑RailOVP‑Schwelle/Leistung prüfen; Ziel ≤3,6 V
D_OVPTVS3V3L4UE6327HTSA1Mehrkanal‑TVS/ESD‑Schutz für DUT‑seitige SignaleZuordnung der I/Os zum J‑DUT‑Signalplan prüfen
D_ESD1, D_ESD2, D_ESD3SRDA3.3-6.TBTESD/Clamp‑Arrays für J‑DUT‑SignaleKapazität für schnelle Signale/SWD/JTAG prüfen
R_DUT_UART_TX, R_DUT_UART_RX220 ΩSerienwiderstände für UART‑Tap/ReserveSchutz und Strombegrenzung gegen Clamp‑Dioden
R_DUT_TRIG, R_DUT_PHASE0, R_DUT_PHASE1, R_DUT_RECOVERY220 ΩSerienwiderstände für Trigger/Marker/RecoveryRECOVERY als Open‑Drain‑Konzept prüfen
R_DUT_SWDIO, R_DUT_SWCLK, R_DUT_NRST100 ΩSerienwiderstände für Debug‑SignaleFlanken/SWD‑Timing prüfen
R_DUT_TCK, R_DUT_TMS, R_DUT_TDI, R_DUT_TDO100 ΩSerienwiderstände für JTAG‑ReserveDNP/Reserve‑Status bei ADP/DCC prüfen
Bewertung: Die Spezifikation „jede DUT‑zugewandte Leitung: Serien‑R + Clamp/ESD“ ist strukturell umgesetzt. Reviewer sollte die konkrete TVS‑Kanalzuordnung gegen das J_DUT_FINAL‑Pinout durchklingeln.

8. DUT‑Connector und Injektionswahl

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DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
J_DUT_FINAL827881-1finaler keyed/latching DUT‑Connector‑KandidatPinzahl/Pinout mechanisch gegen ADP‑Konzept prüfen; ursprüngliche Spezifikation war 21 Signale, verwendeter Connector bietet Reserve
R_SEL_BOARD0 Ωverbindet NodeA auf VDD_BOARD_INnur eine Injektionsoption bestücken, wenn Board‑Eingang genutzt wird
R_SEL_MCU0 Ωverbindet NodeA auf VDD_MCU_DIRECTnur eine Injektionsoption bestücken, wenn MCU‑Direktversorgung genutzt wird
Eingefrorene logische J‑DUT‑Signale im Design:
  • VDD_BOARD_IN, VDD_MCU_DIRECT, VDD_SENSE
  • GND, GND_SENSE
  • UART_TX_TAP, UART_RX_RSVD
  • TRIG_GPIO, PHASE0, PHASE1, RECOVERY_OD
  • SWDIO_DUT, SWCLK_DUT, DUT_NRESET
  • JTAG_TCK_RSVD, JTAG_TMS_RSVD, JTAG_TDI_RSVD, JTAG_TDO_RSVD
  • BP_SPARE0/1 bzw. DUT‑Spare‑Leitungen
Bewertung: Die Adapter/DCC‑Forward‑Compatibility ist im Connector‑Konzept enthalten. Wichtig ist, dass ADP‑Boards Kelvin‑Sense wirklich am DUT‑Pin abgreifen, nicht nur am Adapter‑Connector.

9. RP2040‑Pico und digitale Steuerung

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DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
U_PICORaspberry Pi PicoEchtzeit‑Sequencer, PIO‑Timestamping, I²C‑Master, GPIO‑SteuerungVersorgung über VSYS/3V3‑Housekeeping prüfen; USB VBUS bewusst daten-only/unbenutzt
U_DACMCP4725Victim‑Setpoint per I²CI²C‑Adresse und EEPROM‑Interaktion prüfen
U_EEPROM24LC02B-E/SNKalibrierdaten: Card‑Serial, Shunt, Gain, DUT‑ProfilAdresspins/WP‑Status prüfen; Inhalt für Produktion definieren
R_SLOT_ID0_PU, R_SLOT_ID1_PU, R_SLOT_ID2_PU10 kΩSCC‑Pullups für Slot‑ID‑BitsBackplane zieht je Slot selektiv auf GND/offen
TP_SYNCTestpointSYNC‑Leitung messbar machenSkew/Signalqualität prüfen
Bewertung: Pico‑GPIO‑Aufteilung erfüllt die Spezifikation mit Load‑Switch‑EN, Sink‑Gate, I²C, ADC/PIO‑Inputs, SYNC/SAFE und Slot‑ID.

10. Backplane / Slot‑System

Table


DesignatorBauteilZweck / SinnReview-Hinweis
J_BKP_SLOT1 … J_BKP_SLOT891302-85-067RDMacht Backplane‑Slot‑Connectoren für SCCsStrompins, GND‑Pins, Keying und mechanische Belastung prüfen
J_BP_SCC91302-85-067RDMSCC‑Gegenstück / J‑BP‑InterfacePinout muss exakt zum Slot‑Connector passen
J_HOST4‑Pin HeaderHost‑Header für SAFE/SYNC/GND/ReserveRichtung/Pinout beschriften
Backplane‑Funktionen:
  • verteilt BKP_5V_BUS stern-/busartig an 8 Slots;
  • führt viele GND‑Pins je Slot;
  • verteilt BKP_SYNC und BKP_SAFE an alle Slots;
  • stellt pro Slot eine binäre ID über SLOTx_IDy bereit;
  • führt BKP_SPARE0_BUS und BKP_SPARE1_BUS als Reserve.
Bekannte Slot‑ID‑Logik aus dem aktuellen Netznamenbild:

Table


SlotID‑Bits im Design erkennbar
Slot 1Basis/Default über Slot‑ID‑Bus
Slot 2SLOT2_ID0
Slot 3SLOT3_ID1
Slot 4SLOT4_ID0, SLOT4_ID1
Slot 5SLOT5_ID2
Slot 6SLOT6_ID0, SLOT6_ID2
Slot 7SLOT7_ID1, SLOT7_ID2
Slot 8SLOT8_ID0, SLOT8_ID1, SLOT8_ID2
Bewertung: Backplane ist für 8 Slots vorgesehen. Reviewer sollte prüfen, ob die Slot‑ID‑Polarität eindeutig dokumentiert ist: Pullup auf SCC und Strap/Verbindung auf BKP bedeutet je nach Firmwaredefinition „offen=1, GND=0“ oder umgekehrt.

11. Testpunkte und Bring‑up
Vorhandene explizite Testpoints:

Table


DesignatorSignalZweck
TP_NODEANODEAVictim‑VDD/Sag‑Profil messen
TP_FASTISENSE_FASTFast‑Sense‑Amp‑Ausgang messen
TP_CMPTRIG_CMPKomparator‑Trigger messen
TP_SYNCSYNCSCC‑SYNC‑Signal messen
Zusätzliche laut ursprünglicher Spec gewünschte Messpunkte, die der Reviewer im Layout/Schaltplan explizit gegenprüfen sollte:
  • GND_SENSE / Kelvin‑GND
  • SINK_GATE
  • Regler‑FB (VICTIM_FB)
  • DUT‑Triggerlinien (TRIG_GPIO, PHASE0/1)
  • 5V_PROT und 3V3_HK

12. Nicht‑BOM-/Schematic‑Hilfsobjekte
Das Projekt enthält viele Ground‑Symbole, Net Portals und No‑Connect‑Marker. Diese sind keine realen Bauteile:

Table


TypAnzahl aktuellZweck
Ground95lokale GND‑Referenzen und Pin‑Verbindungen
Net Portal263netzgleiche Verbindung ohne lange Schaltplanleitungen
No Connect515bewusst unbenutzte Pins, vor allem an hochpoligen Steckern/Reserven
Reviewer‑Hinweis: Die hohe No‑Connect‑Zahl ist erwartbar, weil die verwendeten Backplane‑ und DUT‑Connectoren mehr Pins/Reserven bieten als aktuell vollständig genutzt werden. Trotzdem sollte stichprobenartig geprüft werden, ob kein benötigter Pin versehentlich als NC markiert wurde.

13. Wichtige menschliche Prüfpunkte vor Fertigung
  1. Buck‑Feedback prüfen: R_FB_TOP, R_FB_BOT, R_DAC_INJ, U_DAC müssen den gewünschten 0,8–3,6‑V‑Bereich monoton und sicher abbilden.
  2. NodeA‑OVP prüfen: Zener/TVS‑Kombination darf bei normalen 3,3‑V‑Setpoints nicht unnötig leiten, muss aber ≤3,6 V ausreichend klemmen.
  3. Shunt/Kelvin prüfen: R_SHUNT muss vierdrahtig und sehr nahe an INA226/INA187‑Sense‑Routing angebunden sein.
  4. Safe‑State prüfen: R_LOADSW_PD und R_SINK_PD müssen ohne Pico‑Firmware den DUT stromlos und die Senke aus halten; globale SAFE‑Logik firmware-/hardwareseitig testen.
  5. DUT‑Schutz prüfen: Jede J‑DUT‑Signalrichtung gegen Serien‑R + ESD/Clamp durchklingeln.
  6. Pico‑USB daten-only: Pico‑VBUS darf nicht die Systemversorgung bilden; VSYS/Housekeeping‑Speisung prüfen.
  7. Backplane‑Strom: Leiterbahnbreite, Connector‑Pins und PSU‑Klemme für 8 Karten und ca. 5–6 A Systemstrom auslegen.
  8. Slot‑ID‑Polarität: Firmware und Hardware müssen dieselbe Bitdefinition verwenden.
  9. Layout‑Routing: Nach dem Neu‑Autorouting alle Airwires, DRC, Kupferreste, Smart‑Vias und Board‑Edge‑Abstände prüfen.
  10. Phase‑2‑Abgrenzung: SNF/DCC/RFI sind nur über Schnittstellen reserviert; keine Phase‑2‑Boardfunktionen sollen auf SCC/BKP hineinrutschen.

14. Kurzfazit
Das aktuelle Phase‑1‑Design enthält die vorgesehenen Kernfunktionen: Backplane‑Verteilung, SCC‑Power‑Frontend, einstellbare Victim‑Rail, zwei Strommesspfade, Load‑Switch, aktive Senke, Pico‑Steuerung, Cal‑EEPROM, DUT‑Schutz und eingefrorene J‑DUT/J‑BP‑Schnittstellen. Die kritischsten Review‑Themen sind nicht die Existenz der Funktionsblöcke, sondern deren konkrete Dimensionierung und Layoutqualität: Buck‑Feedback, OVP‑Clamp, Kelvin‑Shunt‑Routing, Safe‑State‑Verhalten und Backplane‑Stromführung.
  • 1. Gesamtarchitektur

  • 2. Stromversorgung und Eingangsschutz

  • 3. Housekeeping‑3,3‑V

  • 4. Victim‑Rail / einstellbare DUT‑Versorgung

  • 5. Shunt‑Messung und Telemetrie

  • 6. Load‑Switch, NodeA und aktive Senke

  • 7. OVP, ESD und DUT‑Leitungsschutz

  • 8. DUT‑Connector und Injektionswahl

  • 9. RP2040‑Pico und digitale Steuerung

  • 10. Backplane / Slot‑System

  • 11. Testpunkte und Bring‑up

  • 12. Nicht‑BOM-/Schematic‑Hilfsobjekte

  • 13. Wichtige menschliche Prüfpunkte vor Fertigung

  • 14. Kurzfazit