Phase 1 Board Design Specifications
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| Netz | Bedeutung |
|---|---|
BKP_5V_BUS / BKP_5V_RAW | 5‑V‑Versorgung von Bench‑PSU über Backplane zu SCC‑Slots |
5V_REV_PROT / 5V_PROT | SCC‑seitige 5‑V‑Schiene nach Verpolschutz/Sicherung |
3V3_HK | Housekeeping‑3,3‑V für Pico, DAC, INA, EEPROM, Komparator/Sense‑Logik |
VICTIM_REG_OUT | Ausgang Victim‑Buck vor Shunt/Load‑Switch |
VSHUNT_LOAD_IN / SHUNT_KELVIN_MINUS | Shunt‑Messknoten für Strommessung |
NODEA | geschaltete DUT‑Victim‑Rail nach Load‑Switch; zentraler Injektions-/Sag‑Knoten |
I2C_SDA / I2C_SCL | Pico‑I²C für DAC, INA226 und EEPROM |
SYNC, SAFE | SCC‑lokale Steuerleitungen vom J‑BP/Pico |
BKP_SYNC, BKP_SAFE | Backplane‑Busleitungen zu allen Slots |
SLOT_ID0..2 | SCC‑gelesene Slot‑ID |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
J_PSU_IN | Phoenix_MKDSN2_5_3-5.08 | 5‑V‑Bench‑PSU‑Eingang der Backplane | Stromtragfähigkeit für Summe aller Slots prüfen; Polarität/Pinout mechanisch verifizieren |
D_REV | B340B-13-F Schottky | Verpolschutz/Reverse‑Protection in der SCC‑5‑V‑Zuleitung | Spannungsabfall und Verlustleistung bei Kartenstrom prüfen |
F_IN_FINAL | NANOSMDC200F-2 | per‑Card PTC/Sicherung, ca. 2 A Klasse | Hold-/Trip‑Strom gegen erwartete DUT‑Spitzen validieren |
C_5V_BULK | 47 µF | lokale Bulk‑Kapazität hinter Eingangsschutz | nahe am 5‑V‑Eingang platzieren |
C_3V3_BULK | 10 µF | Bulk‑Kapazität auf Housekeeping‑3V3 | nahe 3V3‑Verteilung platzieren |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
U_HK_LDO | TPS7A2033PDBVR | saubere 3,3‑V‑Housekeeping‑Rail für Logik/Analog/Pico‑VSYS‑Versorgung | Verlustleistung aus 5 V prüfen; ausreichend Kupferfläche vorsehen |
C_HK_IN | 1 µF | LDO‑Eingangskondensator | direkt am LDO‑Eingang |
C_HK_OUT | 2,2 µF | LDO‑Ausgangskondensator/Stabilität | Wert/ESR gemäß Datenblatt prüfen |
R_I2C_SDA, R_I2C_SCL | 4,7 kΩ | Pullups für I²C auf 3V3_HK | Buskapazität und gewünschte I²C‑Geschwindigkeit prüfen |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
U_VICTIM_BUCK | LMR33630-Q1 | einstellbarer Buck‑Vorregler für Victim‑Rail aus 5 V | Feedback‑Netz und DAC‑Injection besonders prüfen; Ripple gegen Messanforderung bewerten |
L_VICTIM | 6,8 µH | Buck‑Induktor | Sättigungsstrom > Peak‑Strom; DCR/Erwärmung prüfen |
C_BUCK_IN | 10 µF | Buck‑Eingangskapazität | nahe VIN/PGND platzieren |
C_BUCK_HF | 220 nF | HF‑Bypass am Buck | extrem nahe am Regler platzieren |
C_VCC_BUCK | 1 µF | VCC/BIAS‑Kondensator Buck | gemäß Datenblatt |
C_BOOT | 100 nF | Bootstrap‑Kondensator | direkt zwischen BST/SW |
C_VICTIM_OUT1, C_VICTIM_OUT2 | je 22 µF | Ausgangskapazität Victim‑Regler | Stabilität/Ripple/Transienten prüfen |
R_FB_TOP | 100 kΩ | oberer Feedback‑Widerstand | Zielbereich der Ausgangsspannung prüfen |
R_FB_BOT | 43,2 kΩ | unterer Feedback‑Widerstand | Zielbereich der Ausgangsspannung prüfen |
U_DAC | MCP4725 | I²C‑DAC zur Setpoint‑Verschiebung über Feedback‑Injection | monotone Kennlinie und Auflösung ≤10 mV verifizieren |
R_DAC_INJ | 100 kΩ | DAC‑Injection in Feedback‑Netz | begrenzt DAC‑Einfluss; Transferfunktion berechnen/messen |
R_PG_PULLUP | 100 kΩ | Pullup für Power‑Good VICTIM_PG | ggf. stärkeren Pullup wählen, falls Flanken zu langsam |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
R_SHUNT | 20 mΩ | High‑Side‑Shunt in der Victim‑Rail | Kelvin‑Routing zwingend; Verlust bei 1,5 A ca. 45 mW |
U_INA | INA226 | langsame präzise I²C‑Strom-/Spannungs-/Leistungs‑Telemetrie | Shunt‑Kalibrierung im EEPROM ablegen; Alert‑Pin ggf. bewusst unused |
U_FAST_AMP | INA187A3IDBVR | schneller Strommesspfad für µs‑Ereignisse/Komparator/Pico‑ADC | Bandbreite/Gain gegen 100 kHz+ Ziel prüfen; nahe am Shunt platzieren |
U_CMP | MAX941xSA | Komparator für schnelle Trigger aus Fast‑Sense‑Signal | Referenz/Schwelle final validieren; Ausgang an Pico‑PIO |
TP_FAST | Testpoint | Fast‑Sense‑Amp‑Ausgang messbar machen | Scope‑zugänglich |
TP_CMP | Testpoint | Komparator‑Ausgang messbar machen | Scope‑zugänglich |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
U_LOADSW | TPS22995RZGR | High‑Side‑Load‑Switch zwischen Shunt/Regler und NodeA/DUT | R_on, Strom, Soft‑Start und EN‑Logik prüfen |
R_LOADSW_PD | 100 kΩ | Pull‑down auf Load‑Switch‑EN | Safe‑State: unprogrammierter Pico = DUT aus |
Q_SINK | AO3400A | aktive Senke von NodeA nach GND für Sag/Gray‑Zone‑Events | SOA, Pulsstrom und thermische Belastung prüfen |
R_LIM | 1 Ω | Strombegrenzung der Senke | Peak‑Strom ungefähr V/R; Kalibrierung je DUT‑Decoupling nötig |
R_SINK_PD | 100 kΩ | Gate‑Pull‑down für Q_SINK | Safe‑State: Senke aus |
C_NODEA | TBD/F | optionale NodeA‑Kapazität/Reservierung | Wert bewusst kalibrierabhängig; nicht ungeprüft bestücken |
TP_NODEA | Testpoint | Victim‑VDD/NodeA messen | wichtigster Scope‑Punkt für Sag‑Profil |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
D_OVP_ZENER | SZMM3Z3V3T1G | Zener‑Clamp auf NodeA/Victim‑Rail | OVP‑Schwelle/Leistung prüfen; Ziel ≤3,6 V |
D_OVP | TVS3V3L4UE6327HTSA1 | Mehrkanal‑TVS/ESD‑Schutz für DUT‑seitige Signale | Zuordnung der I/Os zum J‑DUT‑Signalplan prüfen |
D_ESD1, D_ESD2, D_ESD3 | SRDA3.3-6.TBT | ESD/Clamp‑Arrays für J‑DUT‑Signale | Kapazität für schnelle Signale/SWD/JTAG prüfen |
R_DUT_UART_TX, R_DUT_UART_RX | 220 Ω | Serienwiderstände für UART‑Tap/Reserve | Schutz und Strombegrenzung gegen Clamp‑Dioden |
R_DUT_TRIG, R_DUT_PHASE0, R_DUT_PHASE1, R_DUT_RECOVERY | 220 Ω | Serienwiderstände für Trigger/Marker/Recovery | RECOVERY als Open‑Drain‑Konzept prüfen |
R_DUT_SWDIO, R_DUT_SWCLK, R_DUT_NRST | 100 Ω | Serienwiderstände für Debug‑Signale | Flanken/SWD‑Timing prüfen |
R_DUT_TCK, R_DUT_TMS, R_DUT_TDI, R_DUT_TDO | 100 Ω | Serienwiderstände für JTAG‑Reserve | DNP/Reserve‑Status bei ADP/DCC prüfen |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
J_DUT_FINAL | 827881-1 | finaler keyed/latching DUT‑Connector‑Kandidat | Pinzahl/Pinout mechanisch gegen ADP‑Konzept prüfen; ursprüngliche Spezifikation war 21 Signale, verwendeter Connector bietet Reserve |
R_SEL_BOARD | 0 Ω | verbindet NodeA auf VDD_BOARD_IN | nur eine Injektionsoption bestücken, wenn Board‑Eingang genutzt wird |
R_SEL_MCU | 0 Ω | verbindet NodeA auf VDD_MCU_DIRECT | nur eine Injektionsoption bestücken, wenn MCU‑Direktversorgung genutzt wird |
VDD_BOARD_IN, VDD_MCU_DIRECT, VDD_SENSEGND, GND_SENSEUART_TX_TAP, UART_RX_RSVDTRIG_GPIO, PHASE0, PHASE1, RECOVERY_ODSWDIO_DUT, SWCLK_DUT, DUT_NRESETJTAG_TCK_RSVD, JTAG_TMS_RSVD, JTAG_TDI_RSVD, JTAG_TDO_RSVDBP_SPARE0/1 bzw. DUT‑Spare‑LeitungenTable
| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
U_PICO | Raspberry Pi Pico | Echtzeit‑Sequencer, PIO‑Timestamping, I²C‑Master, GPIO‑Steuerung | Versorgung über VSYS/3V3‑Housekeeping prüfen; USB VBUS bewusst daten-only/unbenutzt |
U_DAC | MCP4725 | Victim‑Setpoint per I²C | I²C‑Adresse und EEPROM‑Interaktion prüfen |
U_EEPROM | 24LC02B-E/SN | Kalibrierdaten: Card‑Serial, Shunt, Gain, DUT‑Profil | Adresspins/WP‑Status prüfen; Inhalt für Produktion definieren |
R_SLOT_ID0_PU, R_SLOT_ID1_PU, R_SLOT_ID2_PU | 10 kΩ | SCC‑Pullups für Slot‑ID‑Bits | Backplane zieht je Slot selektiv auf GND/offen |
TP_SYNC | Testpoint | SYNC‑Leitung messbar machen | Skew/Signalqualität prüfen |
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| Designator | Bauteil | Zweck / Sinn | Review-Hinweis |
|---|---|---|---|
J_BKP_SLOT1 … J_BKP_SLOT8 | 91302-85-067RDM | acht Backplane‑Slot‑Connectoren für SCCs | Strompins, GND‑Pins, Keying und mechanische Belastung prüfen |
J_BP_SCC | 91302-85-067RDM | SCC‑Gegenstück / J‑BP‑Interface | Pinout muss exakt zum Slot‑Connector passen |
J_HOST | 4‑Pin Header | Host‑Header für SAFE/SYNC/GND/Reserve | Richtung/Pinout beschriften |
BKP_5V_BUS stern-/busartig an 8 Slots;BKP_SYNC und BKP_SAFE an alle Slots;SLOTx_IDy bereit;BKP_SPARE0_BUS und BKP_SPARE1_BUS als Reserve.Table
| Slot | ID‑Bits im Design erkennbar |
|---|---|
| Slot 1 | Basis/Default über Slot‑ID‑Bus |
| Slot 2 | SLOT2_ID0 |
| Slot 3 | SLOT3_ID1 |
| Slot 4 | SLOT4_ID0, SLOT4_ID1 |
| Slot 5 | SLOT5_ID2 |
| Slot 6 | SLOT6_ID0, SLOT6_ID2 |
| Slot 7 | SLOT7_ID1, SLOT7_ID2 |
| Slot 8 | SLOT8_ID0, SLOT8_ID1, SLOT8_ID2 |
Table
| Designator | Signal | Zweck |
|---|---|---|
TP_NODEA | NODEA | Victim‑VDD/Sag‑Profil messen |
TP_FAST | ISENSE_FAST | Fast‑Sense‑Amp‑Ausgang messen |
TP_CMP | TRIG_CMP | Komparator‑Trigger messen |
TP_SYNC | SYNC | SCC‑SYNC‑Signal messen |
VICTIM_FB)TRIG_GPIO, PHASE0/1)Table
| Typ | Anzahl aktuell | Zweck |
|---|---|---|
| Ground | 95 | lokale GND‑Referenzen und Pin‑Verbindungen |
| Net Portal | 263 | netzgleiche Verbindung ohne lange Schaltplanleitungen |
| No Connect | 515 | bewusst unbenutzte Pins, vor allem an hochpoligen Steckern/Reserven |
R_FB_TOP, R_FB_BOT, R_DAC_INJ, U_DAC müssen den gewünschten 0,8–3,6‑V‑Bereich monoton und sicher abbilden.R_LOADSW_PD und R_SINK_PD müssen ohne Pico‑Firmware den DUT stromlos und die Senke aus halten; globale SAFE‑Logik firmware-/hardwareseitig testen.1. Gesamtarchitektur
2. Stromversorgung und Eingangsschutz
3. Housekeeping‑3,3‑V
4. Victim‑Rail / einstellbare DUT‑Versorgung
5. Shunt‑Messung und Telemetrie
6. Load‑Switch, NodeA und aktive Senke
7. OVP, ESD und DUT‑Leitungsschutz
8. DUT‑Connector und Injektionswahl
9. RP2040‑Pico und digitale Steuerung
10. Backplane / Slot‑System
11. Testpunkte und Bring‑up
12. Nicht‑BOM-/Schematic‑Hilfsobjekte
13. Wichtige menschliche Prüfpunkte vor Fertigung
14. Kurzfazit